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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/UCSP/15757
Title: 2017 IEEE Latin American Conference on Computational Intelligence (LA-CCI)
Authors: Túpac Valdivia, Yván Jesús
Keywords: Prueba de permutación;Tasa de error de tipo I;Efecto de prueba
Issue Date: 2018
Publisher: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
metadata.dc.relation.uri: https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85050399926&doi=10.1109%2fLA-CCI.2017.8285671&partnerID=40&md5=3b051bd406eb9534a91912784e9dcb15
Abstract: En las ediciones anteriores de LA-CCI (es decir, 2016 - Colombia, 2015 - Brasil, y en 2014 - Argentina), contó con el apoyo de las respectivas sociedades nacionales y varias sociedades hermanas, especialmente las prestigiosas IEEE e IEEE-CIS. Sin embargo, como resultado natural del crecimiento del evento, el equipo organizador y el comité de dirección están muy felices de anunciar que en 2017, por segunda vez, IEEE será un patrocinador completo de nuestra Conferencia.
URI: http://repositorio.ucsp.edu.pe/handle/UCSP/15757
ISBN: 9781538637340
Appears in Collections:Artículos de investigación

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